传统 X 射线检测方式在电芯 Overhang（极片悬伸量）、间隙、极片对位偏差等内部指标以及电芯内部安全项检测中，误判与漏检率较高。这不仅造成大量良品报废、推高生产成本，还可能使带有安全隐患的产品流入市场，损害企业声誉并威胁用户使用安全。