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产品
MCU老化线
子方案概述(量化描述)
通过功率循环与高温老化,筛选早期故障,提升产品寿命。
产品描述


主要工序(工艺流程点)

自动上电、模拟负载运行、高低温循环、老化监控、性能复测。


特点/优势

多通道并行老化;实时监控IGBT结温;负载模拟不同功率电机。


单元组成
老化测试架、功率循环系统、热冲击系统、在线监测系统。

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