MCU老化线
方案概述
通过功率循环与高温老化，筛选早期故障，提升产品寿命。
主工艺流程与单元组成
主要工艺：自动上电、模拟负载运行、高低温循环、老化监控、性能复测。
单元组成：老化测试架、功率循环系统、热冲击系统、在线监测系统。
方案概述
通过功率循环与高温老化，筛选早期故障，提升产品寿命。
主要工艺：自动上电、模拟负载运行、高低温循环、老化监控、性能复测。
单元组成：老化测试架、功率循环系统、热冲击系统、在线监测系统。