8 月 26 日至 8 月 28 日，以 “多元赋能，全面升维” 的 DIC EXPO 2026 显示技术及应用创新展于上海新国际博览中心盛大启幕。作为全球显示行业的年度风向标，本次展会汇聚从上游材料装备到下游终端应用的显示全产业链，聚焦Mini/Micro-LED、OLED、AI眼镜、车载显示等前沿赛道，共同探寻并塑造显示技术在全场景时代的全新范式。

精测电子，开创显示量检测国产化先河的领军企业，携显示前沿量检测技术、AI+创新产品及全品类量检测解决方案精彩亮相，全方位呈现覆盖显示多技术路线，贯穿全领域、全制程的智能量检测与良率管理解决方案，持续引领显示量检测与AI技术的创新融合发展。

精测电子集团董事、副总经理刘荣华（第二排左五）受邀参加大会开幕典礼

展会同期，DIC Forum显示产业创新合作论坛、2026AI驱动下的AR/VR核心器件创新与量产投资峰会、2026全球先锋显示科技发布会等高规格行业论坛如期举办，精测电子受邀登台，围绕全显示产业量产痛点、AI驱动量检测技术创新、AR/VR近眼光学测量体系构建等议题发表主题分享，与行业专家探讨智能检测与智能制造的相辅相成，共同开创显示良率管理新局，持续推动智能终端的极致视觉体验。

前瞻视界聚力论道| 赋能显示产业高质量发展

精测电子集团董事、副总经理刘荣华在DIC FORUM显示产业创新合作论坛发表了题为《AI驱动量检测创新，精测电子Quality Insight开创显示良率管理新局》的重要演讲，引发现场观众的热烈反响。

刘荣华表示，当前显示行业正朝极致视觉体验、智能化与多元化方向演进，OLED大尺寸/折叠屏、Micro-LED巨量转移、Micro-OLED超高PPI及AR/VR近眼显示等技术路线并行发展。检测对象复杂度陡增、检测数据协同性低效、智能检测落地周期长，量检测已成为制约显示行业量产的关键瓶颈。

针对行业痛点，精测电子率先将AI与量检测技术深度融合，打造系统级QI（Quality Insight）良率管理平台，构建起 “颜色管理平台+生产数据中枢+智能进化引擎” 的完整良率管控体系，实现从前端检测、中端管理到后端优化的全流程闭环，助推客户持续提升工艺技术和良率水平，助力制造场景高效、精准、可规模化的良率管理，开创显示领域端到端全场景智能制造良率管理新局。

精测电子集团显示事业群副总经理欧昌东在2026 AI驱动下的AR/VR核心器件创新与量产投资峰会上带来《共筑Micro-LED量产生态，共赢新型显示产业未来》主题演讲，他表示，伴随AR/VR/AI眼镜等近眼显示设备快速突破与成长，“Micro-LED+光波导”有望成为近眼显示设备终极显示解决方案。同时，Micro-LED显示亮色度/光谱量测与调教、缺陷检测与修复等量检测难题正成为制约行业量产的核心问题。

精测电子基于全栈自研“光机电算软”一体化技术平台，创新推出新型显示量检测解决方案。依托晶圆段光电性能量测、ATE电性能测试、模组段Gamma调测及缺陷检测与修复、光波导及Projector光电性能量测等全制程核心量检测设备，以“光+AI”量检测突破产业技术瓶颈，形成全链路数据闭环与全流程智能检测。

在随后的圆桌论坛中，欧昌东就Micro-LED量产产线对品质与效率的高标准要求，及精测电子如何推动AR/VR/AI眼镜等近眼显示从实验室到终端的产业化落地进行了细致阐述，通过产业对话与思想碰撞，寻找驱动产业向上的新变量，共绘新型显示产业未来图景。

精测电子集团高级产品经理洪浩围绕AR产业链路量产的行业难点在DIC FORUM 2026全球先锋显示科技发布会上发表了《效率与精度双突破:新型显示检测设备的创新实践》的演讲。

精测电子聚焦AR产业链路量产中，因Micro显示微缩化、超高亮引发的检测准确性、一致性、低效等行业难点，以亚微米级高分辨率光学系统打造μSLT-330M，实现Micro-LED/OLED微显示亚像素级缺陷检测与DeMura修复，在打破批量生产基础上，进一步从检测准确性、修复升等率、效率等多维度升级。

同时，在显示视角量测维度，以全球首创三边固定式光谱阵列技术推出TVCM03X多视角光学检测仪，极限压缩光斑尺寸，三方位N角度（0°、15°、30°、45°、60°）最小光斑1mm，适配Micro显示微小场景，效率较传统方案提升3倍，实现精度与效率双重突破，树立行业精密光学仪器新标杆。

全栈自研创新量检测技术产品| 适配全显示工艺迭代 实现全制程良率管理

在DIC EXPO 2026上，精测电子集中展示从传统显示到新型显示，覆盖LCD/OLED/Micro-OLED/Micro-LED/Mini-LED/E-paper的一站式全显示产业制程检测与良率管理解决方案，以全制程、高精度、高效率、高可靠的量检测技术、产品、方案与服务持续引领显示产业发展，引发现场热烈关注。

OLED全制程零检测解决方案

作为先进显示主流技术方向，OLED产业的技术迭代与快速扩张，为量检测带来了全方位考验。

精测电子深耕OLED量检测领域，与国内外头部客户联合研发，深度契合光刻、蒸镀、印刷三大行业主流技术路线，打造覆盖Array/Cell/Module全制程量检测解决方案。以“精密检测”、“智能修复”和“数据驱动”精准匹配OLED新兴产品的检测需求，为客户提供从技术研发到量产落地的全生命周期技术服务，助力攻克核心工艺难关，以主动良率管理护航G8.6代线量产进程。

新型显示量检测解决方案

当前，AR/VR产业迅猛发展，精测电子精准把握产业迭代趋势，创新推出新型显示量检测解决方案，构建从晶圆电测分选、精密仪器光电测试、近眼显示到成品性能验证的全流程量检测能力。

通过AI与量检测深度融合，实现像素级颜色管理、高精度光谱分析及外观缺陷智能判定，形成全链路数据闭环，不仅可满足显示面板及AR/VR量产产线对良率与生产节拍的高标准需求，更为未来半导体显示与柔性形态显示器件的量检测需求，提供具备高度扩展性的技术平台，助力新型显示前沿技术的产业化落地。

AIVIS智能视觉检测工作站

作为一款全栈AI的视觉检测产品，AIVIS深度融合卷积神经网络、Transformer架构及创新自研的零样本异常检测、缺陷生成及自分类技术和小样本学习算法，内置五大协同子系统，覆盖从数据标注、算法开发、模型训练到生产部署与持续进化的完整闭环，为客户提供一站式智能检测解决方案。

产品可快速适配显示、新能源、半导体、3C等行业的复杂缺陷检测需求，精准应对在智能制造迈向高质量发展的今天，产品缺陷检测与良率管控正面临的精度与效率挑战。

True Color 智能颜色管理平台

当前，显示技术多路线持续演进，已进入多元化发展时代，统一色彩管理标准体系的缺失正成为行业良率管理的痛点。

精测电子True Color智能颜色管理平台，通过微米级空间分辨率光学采集还原真实色彩本质，建立跨设备、跨制程、跨品类的统一色彩管理体系，提供覆盖研发、生产、终端全流程的闭环色彩管理解决方案，实现端到端的色彩标准一致性，以标准化通用方案替代碎片化的客制化方案，大幅缩短产品开发周期，降低长期维护成本。

电学测试仪器产品系列

从推出国内首台自主知识产权的图像信号发生器产品，到自主研发覆盖LCD、OLED、Micro-LED、Micro-OLED、老化测试系统等全系列高精度、高可靠性图像信号发生器产品系列。精测电子可提供从晶圆/裸DIE到Cell段、Module段直至老化验证的全制程信号驱动与测试解决方案，广泛应用于实验室验证与产线测试。

相关电学测试仪器产品具备高带宽、高精度、高灵活性等优势，适配多场景、多尺寸电性检测与老化测试等核心环节。

光学测试仪器产品系列

精测电子基于色彩科学、高精度成像技术、智能量检测算法、显示颜色测量技术等核心能力，打造以光谱仪、色彩分析仪、3D光学传感器、亮色度仪、视角测量仪、近眼显示测量仪等高精密、智能化的多品类光学仪器产品，为传统显示、半导体显示等多领域、多场景提供高精度解决方案。

可实现对被测物光学特性、颜色管理、Gamma调测、表面缺陷（3D）等量检测服务覆盖，在测量精度、效率、稳定性等核心指标上达到行业先进水平，并具备灵活的定制化与模块化配置能力，保障客户产品质量、降低成本并提高效率。

展会期间，精测电子一站式全显示产业制程检测与良率管理解决方案受到了业内广泛关注，特别是应用于新型显示量检测Micro-LED微显示器模组AOI设备（μSLT-330M）及TVCM03X多视角光谱测量仪，收到了DIC FORUM显示产业创新合作论坛与DIC EXPO显示技术及应用创新展联合发来的致谢函。精测电子持续以前沿技术助推精密制程迭代革新，不断拓宽高端工艺实施路径，赋能显示装备创新发展。

引领精密检测技术，共创最佳视觉体验。此次全方位亮相DIC EXPO 2026，既是精测电子在全显示领域制程检测与良率管理创新的集中体现，也是精测电子从显示量检测技术领跑者向产业生态引领者跨越的重要实践。

从传统显示到新型显示，精测电子已实现显示领域全制程量检测系统完整覆盖，并率先将AI与量检测技术深度融合，打造系统级Quality Insight良率管理平台，持续赋能多行业、多领域的端到端全场景智能制造转型升级。

面向未来，精测电子将坚持以自主创新为核心，深度联动产业链上下游，一方面持续深耕多元显示技术路线的量检测创新，另一方面持续赋能AR眼镜、折叠屏、车载显示、商用显示等新兴应用场景加速拓展，持续以精密检测技术与主动良率管理赋能每一次显示品质升级，助力全球显示产业迈向更高质量、更高价值的发展新征程。